针对材料件、电子元器件、电子组件、电子整机乃至电子系统的高可靠、长寿命指标验证的需求,本公司利用自身专家多年在**和民用领域多年开展加速试验技术研究取得的成果和技术服务积累的经验,可为用户提供一套完善的装备加速试验与寿命/可靠性快速评价整体解决方案,提出了一套五位一体的加速试验与快速评价模式——充分利用历史数据评估和预测成套装备/系统的可靠性/寿命趋势、基于加速试验技术验证整机/部组件可靠性/寿命目标要求符合性、开展板级电路与元器件寿命特征检测深入查找产品内部缺陷、针对关键元器件和材料件(密封件)开展加速退化试验和检测分析、可靠性/寿命综合评价等五个方面为确定装备长寿命/高可靠性指标提供支撑。
同时,我们针对新研发的产品高可靠/长寿命验证可能存在的失败风险和带来的经济、时间成本损失,可为客户提供高可靠/长寿命增长和强化解决方案,在正式评价试验前,采取可靠性强化试验手段,帮助企业快速查找产品缺陷,协助采取改进措施,增强产品耐环境能力和强度,降低产品失效概率和应力安全裕度,提高产品一次性通过高可靠/长寿命验证试验的成功概率。
服务介绍
高加速试验一般分为宝加速寿命试验和高加速应力应力筛选试验,高加速寿命试验(Highly Accelerated Life Testing,简称HALT试验)是一种利用快速高、低温变换的震荡体系来揭示电子和机械装配件设计缺陷和不足的过程。HALT的目的是在产品开发的早期阶段识别出产品的功能和破坏极限,从而优化产品的可靠性。HALT不是一种合格或者不合格的测试,是一种协助设计工程师改善产品可靠性的工具,没有预先设定极限,极限由产品决定,逐步增加应力,直至失效,试验中需要对产品进行监测。HASS(Highly Accelerated Stress Screening)试验产品通过HALT试验得出操作或破坏极限值后所做的高加速应力筛选,应力低于HALT试验。
广电计量拥有多台HALT试验箱,均为进口Qualmark品牌,可开展的Halt/Hass试验,包括:低温步进应力试验、高温步进应力试验、振动步进应力试验、快速热循环试验和综合应力试验,在这些试验过程中,往往伴随着工作应力如产品开/关机,电压位偏,频率拉偏等。
适用范围:
可为电工电子、仪器仪表、汽车以及航天产品的模块、通讯终端、部件以及整机等开展Halt/Hass试验。
测试标准:
GB/T 29309;
DKBA1141《通信产品HALT试验规范》。